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         测量系统的统计特性
         理想的测量系统在每次使用时，应只产生“正确”的测量结果。每次测量结果总应该与一个标准5相一致。
         一个能产生理想测量结果的测量系统，应具有零方差、零偏倚和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计
         特性。遗憾的是，具有这样理想统计特性的测量系统几乎不存在，因此过程管理者必须采用具有不太理想统
         计特性的测量系统。一个测量系统的质量经常仅用其多次测量数据的统计特性来确定。其它特性，如成本，使
         用的容易程度等对一个测量系统总体理想性的贡献也很重要。但是，确定一个测量系统质量的正是其产生数据
         的统计特性。
         在某一用途中最重要的统计特性在另一种用途中不一定是最重要的。例如，对一个三座标测量机（CMM）的某些
         应用，最重要的统计特性是“小”的偏倚和方差。一个具有这些特性的CMM将产生与证明过的、可溯源的标准值
         “很近”的测量结果。从这样一台机器上所得到的数据对分析一个制造过程可能是十分有用的。但是，不管其偏倚
         和方差多么“小”，使用一台CMM机的测量系统可能不能够用于在好的或坏的产品中的分辨接收工作，由于测量系
         统中其他要素带来了其他变关差源。

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